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9x9系列纳米粒度及窜别迟补电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量分子量，测量结果准确可靠，是测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的信赖之选。

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Zetatronix 系列纳米粒度及窜别迟补电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小，其表面的晶体结构发生变化，从而在电学、光学和化学活性等方面表现出的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数，准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数，Zeta电位越高，胶体系统就越稳定，反之，Zeta电位越